利用衍射光学元件消色差和对波面进行任意整形及自由曲面光学元件校正像差的特性, 将衍射光学元件和自由曲面光学元件应用于传统可见光光谱成像光谱仪成像系统中, 提出了一种新型的可见光光谱成像光谱仪成像系统, 基于衍射光学元件独特的负色散特性, 用一片折射/衍射混合光学元件代替传统的双胶合透镜来实现消色差, 基于自由曲面光学元件的多自由度特性, 在系统中引入两个自由曲面光学元件对系统中的像差进行有针对性的校正, 针对具体的设计实例给出了详细的设计步骤, 设计结果表明, 在相同的参数指标前提下, 新型系统仅为4片式结构, 和传统系统相比, 重量减轻22.9%, 总长缩短26.6%, 最大口径减小30.6%, 调制传递函数值最大提升为1.0视场, 调制传递函数值提高0. 35, 最大畸变减小1.6%, 最大垂轴像差减小56.4%, 轴向色差减小59.3%, 新型系统各方面的性能都得到了较大的改进, 为现代高性能、轻小型可见光光谱成像光谱仪成像系统设计提供了一种新的途径。

随机激光辐射源自激活无序介质，通过辐射光在介质中的多次散射提供光学反馈，无需外加谐振腔。借助液晶的温度和电场依赖性，以液晶为无序介质的随机激光辐射能够呈现出有效的温度控制特性和电场控制特性，为随机激光器的实际应用开辟了新的方法和途径，具有巨大的应用前景。系统介绍了液晶随机激光辐射的基本原理、实现方法及实验结果，回顾了目前的研究现状，提出了以后可能的研究方向。

在相位测量轮廓术(PMP)中,随机相移误差是导致测量误差的重要因素,提出一种新的随机相移误差的校正算法,在五步相移的基础上不需要求解相位分布,通过近似处理可以直接求解相移过程中存在的随机相移误差,在保证精度的情况下,能大大减少迭代次数和计算量。推导了新算法的计算公式,详细说明了随机相移误差的求解过程。计算机模拟和实验证实了新的算法的有效性。与In-bok Kong的算法相比较,新算法能大大减少迭代次数和计算量。该新算法也同样适用于相移干涉计量。