提出了一种基于图像配准的超扭曲向列液晶显示器件(STN-LCD)的外观缺陷自动检测方法。该方法首先对标准模板图像做不均匀光照消除、二值化以及区域信息提取;然后通过控制点检测和仿射变换实现待检测图像和模板图像之间的配准;并利用各图形区域的灰度平均值和标准方差等统计信息,检测缺段、针孔等各类缺陷。为提高图像配准精度,进一步提出了有效控制点筛选方案以及混合插值方法。实验结果表明,该方法设计思路合理,缺陷检测正确率达到98.3%,可代替人眼实现对STN-LCD多种外观缺陷的快速、自动检测,满足实际应用需求。

提出了一种以处于增益开关调制状态下的法布里珀罗(Fabry-Pérot)半导体激光器作为光源,采用简单的自激注入锁定方式,以生成波长可调谐的超短光脉冲的实验系统。该实验装置中,激光器的外腔包括两个串联在一起的布拉格光纤光栅,一个掺铒光纤放大器(EDFA),一个光耦合器和两个环行器,其作用是选模,以及增强并控制反馈回激光器内腔的光强。该实验系统简单而高效,在24 nm的波长调谐范围内获得了边模抑制比高于40 dB的单模光脉冲输出;而在1521.8 nm和1550.0 nm之间28.2 nm的波长调谐范围内,边模抑制比高于35 dB。所得到的各个单波长激光脉冲的时域半峰全宽为140～260 ps,各个脉冲的光谱半峰全宽皆为0.1 nm。

构造了变迹和啁啾的光子晶体结构,用时域有限差分(FDTD)法分析了它们的响应特性。分别对不同啁啾系数的光子晶体结构和不同变迹形式的光子晶体结构进行了比较分析。研究表明,啁啾结构的光子晶体与普通结构的光子晶体相比,禁带的带宽增加了,禁带的中心频率向低频处偏移,当啁啾系数在0～0.01之间以0.002变化率增加时,随着啁啾系数增大,禁带的宽度变大,禁带的中心频率减小;同样构造的线性变迹的光子晶体和正弦变迹的光子晶体对于光子禁带的中心频率和宽度有类似的影响。

介绍一种简单的以自激注入锁定方式、生成边模抑制比改善的、可调谐双波长超短光脉冲的实验系统.系统通过调整两个Bragg光纤光栅和光延迟线,可方便地调谐两个不同波长及其间距,从而获得双波长光脉冲输出.实验显示,在20.7nm的波长调谐范围内,可获得边模抑制比接近或高于30dB的双波长光脉冲输出.系统简单,且波长调谐方便.

提出一种新型的色度均匀性测试方法,它主要是利用CCD成像系统拍摄显示屏白场画面,通过图像采集卡把画面的RGB三刺激值存入计算机,然后根据色度学定义和有关标准进行计算和处理,把处理后的结果用三维图显示.其特点是既可以快速直观地显示测试区域的色差变化,又能定量地得出显示屏任意位置的色差量.实验证明该方法的测试误差小于5%.

以TMS320C6205为处理器,设计一种实时图像识别系统.用SAA7111和FPGA完成无DSP干预的图像采集与存储,通过DMA实现图像传输与DSP识别的并行执行.系统将触发、采集、存储、识别等功能集成在一块PCI卡上,提高了系统的可靠性和安全性.与基于采集卡和PC机的图像识别系统相比,该系统在保持相同的图像识别准确率的前提下,可以将识别速度提高约28.7%.

利用CCD图像传感器和图像采集处理技术,实现了电子束着屏误差二维自动测量.在荧光屏的前端附加垂直和水平两组微偏转线圈,通过控制微偏转线圈的电流,改变着屏点附近的磁场,使电子束着屏点的位置在一个粉点范围内精确连续可调.标准光栅的测试验证,系统绝对误差小于5μm,表明该系统稳定可靠,一致性好.

电子束轮廓的描述是彩色显像管特性检测中的难点之一.采用光电转换与计算机信息处理技术,通过自动调整边界条件和三次样条拟合的方法建立了电子束轮廓自动测量系统.与传统测量方法相比,该系统精度高,测试速度快,极大地减轻了测试人员的工作强度,并增加了对排列率和并列率等的测试功能.

对干涉型光纤传感器的分集检测消偏振衰落技术进行了理论分析,提出了将各路信号平方后相加的信号处理方式,使之能实现单元及阵列的实时消偏振衰落信号检测.通过理论计算,可以使干涉信号幅度波动小于4.7dB,并得出三路检偏是分集检测的最简取值的结论,通过信号处理电路,能够在信噪比略有降低的情况下消除偏振衰落的影响,实现干涉型光纤传感器的消偏振衰落,并设计了用于阵列的分集检测的实现方式.

在研究洗牌网局部互连光学实现问题的基础上,采用洗牌型图样间联想模型建立了具有完整的加权互连、求和、非线性处理及反馈功能的光电混合神经网络实验系统,进行了8×8数字样本的光学联想识别.实验结果证实了洗牌网理论的可行性和洗牌型图样间联想模型光学实现的优越性.