1 中国空空导弹研究院，河南 洛阳 471009；红外探测器技术航空科技重点实验室，河南 洛阳 471009
2 中国空空导弹研究院，河南 洛阳 471009；红外探测器技术航空科技重点实验室，河南 洛阳 471009；东南大学国家ASIC工程中心，江苏 南京 210096
3 中国空空导弹研究院，河南 洛阳 471009
读出电路对红外焦平面阵列成像系统的非均匀性有重要影响，采用动态非线性系统函数的泰勒级数建立功能电路单元的通用非均匀性模型，按照模拟型读出电路的一般结构建立读出电路的非均匀性模型，利用高斯噪声和柏林噪声模拟读出电路参数的空间随机分布，采用三维噪声的空间分量量化评估非均匀性，采用等长的矩阵模型简化阵列信号串行读出的时空转换过程，分析了噪声模型、多通道缓冲和响应非线性的非均匀特性，并指导某320×256阵列读出电路进行了非均匀特性仿真和优化。该方法能够对读出电路的非均匀性进行系统级仿真评估，并为其工程优化提供指导。
读出电路 红外焦平面阵列 非均匀性 仿真 ROIC IRFPA non-uniformity simulation 红外与激光工程
2020, 49(8): 20190581
1 西北工业大学 电子信息学院, 陕西 西安 710072
2 中国空空导弹研究院, 河南 洛阳 471099
3 红外探测器技术航空科技重点实验室, 河南 洛阳 471099
采用高倍光学显微镜和焦平面探测器测试系统对焦平面探测器相连缺陷元进行了测试分析, 研究了焦平面探测器相连缺陷元的成因。研究结果表明: 借助高倍光学显微镜很难识别相连缺陷元; 采用焦平面探测器响应测试系统进行测试时, 相连缺陷元的响应电压与正常元基本相同, 相连缺陷元无法被识别; 采用焦平面探测器串音测试系统进行测试时, 相连缺陷元之间串音为100%, 明显不同于正常元, 此时两元相连缺陷元响应电压是正常元响应电压的二分之一, 相连缺陷元可以被有效识别。光刻腐蚀引入的台面或电极相连, 以及光刻剥离引入的铟柱相连导致了缺陷元的产生; 通过光刻腐蚀、剥离工艺优化, 可以有效减少焦平面探测器相连缺陷元。
焦平面探测器 相连缺陷元 识别 响应 串音 FPA connected defective elements identify response crosstalk 红外与激光工程
2017, 46(4): 0420002
1 西北工业大学 电子信息学院, 陕西 西安 710072
2 中国空空导弹研究院, 河南 洛阳 471099
3 红外探测器技术航空科技重点实验室, 河南 洛阳 471099
面阵探测器相连缺陷元的光电信号与正常元基本相同, 因此采用现有面阵测试方法无法识别相连缺陷元.针对相连缺陷元的特点, 提出了借助改变面阵探测器光电响应的方法来实现相连缺陷元的识别定位.实验结果表明, 该方法使面阵探测器分为两个不同透过率探测单元, 多元相连缺陷元响应电压是相对应的两个不同透过率探测单元响应电压之和的平均值.采用MATLAB软件对测试数据进行分析处理, 分析结果清晰给出缺陷元诸如个数、形状和位置等详细信息.采用本方法面阵探测器相连缺陷元可以被显著识别定位.研究结果为今后的面阵探测器评测与可靠性提高提供了参考.
面阵探测器 相连缺陷元识别 缺陷元定位 缺陷 红外 focal plane array connected defective elements identification defective elements orientation defective infrared
