西北核技术研究所 激光与物质相互作用国家重点实验室, 西安 710024
在用532 nm连续激光辐照TCD-1200D型线阵CCD的过程中，发现了光斑的全饱和单侧拖尾现象。为了分析这种现象的特性，实验测量了拖尾长度随激光功率、CCD积分时间和CCD驱动频率的关系，发现拖尾长度随着激光功率和积分时间的增加而增加，但在一定范围内与CCD驱动频率无关。通过理论计算和实验数据分析拟合发现，拖尾长度和激光功率密度和积分时间的乘积有关，并根据激光辐照下CCD器件光生电荷量的产生过程，推导出了拖尾长度与CCD势阱光生电荷量的关系，得到了拖尾长度随光生电荷量的变化曲线，为全饱和单侧拖尾现象机理分析提供了数据支持。
全饱和单侧拖尾 拖尾长度 激光功率密度 积分时间 光生电荷量 entirely saturated unilateral smear smear length laser power density integral time electric charge collecting quantity 强激光与粒子束
2015, 27(4): 041008
西北核技术研究所 激光与物质相互作用国家重点实验室, 陕西 西安 710024
为了描述重复脉冲激光使扫描型CCD输出视频产生背景条纹的规律, 基于这种背景条纹现象的产生机理对理想矩形脉冲激光产生的条纹建立了数学描述模型。通过该模型, 可根据相机的时间延迟积分级数、单级积分时间和激光脉冲的脉宽、脉冲重复周期等参量之间的关系来判断背景条纹能否出现并计算背景条纹的尺寸参量, 计算精确度为1 pixel。利用重复皮秒脉冲激光和日光灯分别辐照扫描型CCD进行了实验, 验证了上述模型计算结果的正确性。在该模型的基础上, 结合背景光强与脉冲散射光强的关系, 给出了条纹可见度的表达式, 并通过实验验证了该表达式所反映出的条纹可见度随着相关参量变化的规律。
激光辐照 重复脉冲激光 背景条纹 扫描型CCD laser irradiation repetitive pulse laser background fringe scanning CCD
西北核技术研究所 激光与物质相互作用国家重点实验室，陕西 西安 710024
开展了532 nm ps激光辐照面阵Si-CCD的实验研究，建立了532 nm，170 ps激光辐照Si-CCD效应实验测量系统，观察到了各种典型的干扰和损伤效应现象并测量了阈值。对破坏后的CCD 器件的微观结构进行了显微观察，并深入分析了各种典型实验现象和电路层面的损伤机理。开展了10 ns和150 fs激光对CCD探测器的辐照效应实验，并对不同脉宽激光与CCD相互作用阈值的关系进行了比较分析。实验结果表明：激光能量密度为10-8~10-3 J/cm2时，会干扰CCD成像；激光能量密度超过10-1 J/cm2时，则会出现CCD永久性损伤。
激光辐照 激光损伤 ps激光脉冲 阈值 laser irradiation laser damage ps laser pulse Si-CCD Si-CCD threshold
用AMK-02型超声波大气参数综合测量仪同时测量了常规气象参数和大气折射率结构常数Cn2,分析并找出了该仪器给出的Cn2在转换时刻与热丝温度脉动仪的测量结果差异较大的原因,是由于超声波法测量温度脉动精度太低,只能达到0.01K.同时建立了另一种适用于超声波仪计算Cn2的方法,即利用该仪器准确的常规气象参数计算Cn2,其计算结果与热丝温度脉动仪的测量结果吻合较好.
超声波 温度脉动法 大气折射率结构常数 Ultrasonic Temperature fluctuation Refractive-index-structure parameter 强激光与粒子束
2005, 17(12): 1783
