提出一种浮点型数字信号处理器 (DSP)硬核结构，在兼容定点数运算的同时，也为浮点数运算提供较好支持。目前各大现场可编程门阵列 (FPGA)主流厂商在实现浮点数运算功能时均采用软核实现方式，即将浮点数运算算法映射到芯片上，通过逻辑资源和 DSP模块实现。相比于传统方法，提出的硬核结构在不占用 FPGA中其他逻辑资源情况下，仅利用 DSP模块便能完成浮点数运算。设计中，充分考虑负载和时延影响，插入多级流水线，显著提高浮点数的计算效率。采用中芯国际 (MCI)28 nm工艺设计并完成所提出的浮点型 DSP硬核结构。仿真结果表明，所提出的硬核结构的单个浮点数加法和乘法效率为 0.4 Gflops。

针对高压设备SF6气体泄漏检测问题,介绍了SF6气体泄漏产生的危害。根据SF6气体检漏技术的研究进展,可把SF6气体泄漏检测技术分为非光学检测和光学检测两大类。对气体浓度监测技术、真空负离子捕获技术、紫外电离技术和负电晕放电技术等非光学检测技术进行简要的概述,同时对激光成像技术、红外吸收光谱技术和光声光谱技术等光学检测技术进行了重点阐述,并对比分析了各种技术的优缺点,提出了SF6气体检漏仪的未来发展趋势。

在低压直流溅射沉积的纳米Au薄膜表面喷涂有机固体晶体2,5-二苯基恶唑(DPO), 制成具有(Au+DPO)单元结构的多层纳米薄膜。利用XRD表征多层纳米薄膜的晶体结构, 通过SEM表征各层薄膜的表面形貌, 并测试了多层纳米薄膜的紫外荧光特性。与纯DPO薄膜相比, 多层纳米薄膜的紫外荧光峰出现了5 nm的蓝移, 而且DPO荧光峰形貌发生改变。在多层膜中, DPO薄膜的荧光强度与薄膜层数成反比关系, 而纳米Au膜的荧光强度与薄膜层数成正比关系。SEM与XRD测试结果表明, 多层薄膜中的DPO薄膜随着薄膜层数的增加逐渐成为无定型结构。DPO薄膜与纳米Au膜相互作用, 导致其晶体结构异于单层薄膜, 进而改变了其荧光特性。