在卡式系统的后光路中加入倾斜的平板, 实现同轴透射端可见光的接收及反射端红外光的发射。该卡式系统口径为400 mm, 焦距为4 000 mm, 视场为±1.5′, 加入平板后会给系统造成较大的像差, 为了达到系统设计要求: 角分辨率小于1″, MTF曲线在35.7 lp/mm处高于0.6。分析了倾斜平板产生的像差, 对比不同材料和厚度的平板对像差的影响。通过加入偏转的双胶合透镜校正像差, 但该方法会使系统的出瞳位置发生变化, 从而提出使用偏转三胶合透镜保证出瞳位置的校正方法, 并对加入的透镜进行公差分析, 最终达到设计指标。

为了研究激光辐照焦平面探测器的温度效应，采用ANSYS有限元软件建立高斯脉冲激光辐照锑化铟红外焦平面探测器的3维结构分析模型，并对该探测器3维温度场效应进行了研究。结果表明，激光辐照下，探测器最大温度出现在最上层的锑化铟芯片上，探测器最大温度达到锑化铟芯片熔点温度798K时，将会引起探测器的热熔融损伤，且熔融损伤阈值受到脉宽、光斑半径等激光参量的影响;高斯脉冲激光辐照下，探测器中各层材料的温度场分布呈现出非连续的高温极值区域，其主要原因是位于锑化铟红外焦平面探测器中间层相间分布的铟柱和底充胶具有迥异的热学性质，并且造成探测器温度场云图中锑化铟芯片、底充胶与硅读出电路高温极值区域形成类似于互补的高温分布。这为进一步研究温升效应引起的应力场分布、提高探测器激光防护性能提供了重要的理论分析依据。

根据光学系统的装校工艺过程, 应用开发工具Delphi, 研制了用于光学系统装校的光学系统中心偏误差分析软件。该软件提供了光学元件球心像位置计算和光学中心偏误差分析的功能, 人机界面友好、操作简单方便, 目前已经较好地应用于高精度光学中心偏测量仪的光学装校工艺过程的控制。