采用γ射线对SrAl2O4∶Eu2+,Dy3+长余辉荧光材料进行辐照处理, 研究样品经辐照后的长余辉性能。用60Co~γ射线源照射固相合成的SrAl2O4∶Eu2+,Dy3+长余辉荧光材料样品, 累积辐照剂量为100 kGy。利用X射线衍射仪(XRD)、拉曼光谱仪、紫外可见分光光度计、荧光分光光度计及热释光(TL)光谱仪对辐照前后样品的晶体结构、光吸收特性、余辉及热释光特性进行了研究。结果表明：辐照后样品的晶胞体积减小, 氧空位的浓度增加; 由于辐照使样品中引入更多的缺陷, 其吸收光谱的强度提高。辐照后样品的余辉寿命延长, 余辉光谱强度增加; 热释光强度增加, 且光谱向高温方向偏移, 经计算得到辐照后样品中陷阱能级深度增加0.0039 eV, 表明辐照影响了样品中陷阱能级分布且增加了样品中的深能级陷阱数目。

采用高温固相法制备了Dy3+掺杂的Sr1-xCaxMoO4荧光粉。 利用XRD、 SEM、 激发发射光谱以及色参数等研究了所制备荧光粉的结构和发光性能以及x值对荧光粉性能的影响。 XRD图像表明当x=1和x=0时样品为CaMoO4和SrMoO4单一相。 SEM图像表明在750 ℃下煅烧3 h制备的样品粒径为0.2～1.0 μm, 适合固态发光器件的要求。 监测576 nm得到的样品的激发光谱由250～340 nm之间的一个宽带和340～460 nm之间的一系列尖峰组成。 改变Sr/Ca的值, 电荷迁移带激发峰位置发生变化, 而窄带跃迁的激发峰强度发生变化。 用350 nm波长激发样品得到的发射谱由峰值位于480和576 nm的两个窄带组成, 它们是由4F9/2→6H15/2和4F9/2→6H13/2跃迁引起的。 黄色发射峰和蓝色发射峰的强度比Y/B随着Sr/Ca比值的变化而变化。