作者单位
摘要
成都理工大学核技术学院, 四川 成都 610059
在高计数率背景下, 采用数字慢三角成形处理算法的高性能硅漂移探测器X荧光光谱全能峰受到伪峰严重干扰。 介绍了一种新型的剔除伪峰干扰的方法, 详细阐述了该方法中数字三角形成形、 信号甄别和伪峰判断等技术要点。 以55Fe核素和岩石样品为实验对象, 对比伪峰剔除前和剔除后得到的X荧光能谱, 结果证明该方法能够较好地消除谱线图中的伪峰。 因而, 在精细X荧光能谱分析时, 该方法能够提高能谱的峰背比和痕量元素的分析精确度。
精细X荧光 硅漂移探测器 伪峰剔除 信号甄别 Fine EDXRF High performance silicon drift detector False peak eliminating Signal screening 
光谱学与光谱分析
2018, 38(11): 3593

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