作者单位
摘要
湖南科技大学 计算机科学与工程学院,湖南 湘潭411100
针对手机屏幕图像整体亮度不均以及Mura缺陷对比度低等特点,提出一种基于自适应局部增强的Mura缺陷自动在线检测方法。首先对CCD相机采集的手机屏幕原始图像进行感兴趣区域提取、几何校正、滤波等预处理,获取图像中的屏幕区域,然后将屏幕区域划分为多个不重叠的像素块,并根据每个像素块的灰度分布特征,采用自适应局部增强算法自动识别并定位图像中的Mura区域,最后考虑到Mura缺陷大小的不确定,提出采用多层级分块的方式对屏幕区域进行检测,提高算法鲁棒性。实验结果表明,相较现有多种屏幕缺陷自动检测算法,本文方法能更准确有效地识别手机屏幕中的Mura缺陷,且覆盖率和误检率分别为91.17%和5.84%。
TFT-LCD屏 图像增强 缺陷检测 TFT-LCD screen Mura Mura image enhancement defect detection 
液晶与显示
2018, 33(6): 475
作者单位
摘要
1 中北大学信息与通信工程学院, 山西 太原 030051
2 中北大学电子测试技术重点实验室, 山西 太原 030051
3 中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室, 山西 太原 030051
为了更好地解决电机转速测量及转向识别的问题,利用光耦计数器和Arduino控制器,在电机上安装码盘,通过测量码盘黑线的遮光次数来判定电机的转速,并利用双光耦原理来判断电机的正反转,最终将结果显示在LCD12864显示屏上。实验结果表明该系统结构能简单地判断电机的正反转,尤其是在提高测速稳定性与可靠性、降低测速成本等方面具有参考价值及应用前景。
光耦 码盘 电机测速 Arduino 控制器 液晶显示屏 optocoupler code disc motor speed measurement Arduino controller LCD screen 
光学与光电技术
2017, 15(4): 55
作者单位
摘要
西安工程大学 电信学院, 陕西 西安710048
对显示器件的控制是实现良好人机界面的基础,TFT模拟LCD屏符合普通机器对显示效果的要求且价格便宜,在工业机械中应用非常广泛。针对17.8 cm(7 in)模拟屏,提出STM32+CPLD实现单片SRAM做显存的LCD控制方案,并从STM32的DMA写外接显存的速度方面分析了所提方案的可行性。对系统设计中关键问题予以论述并给出了部分程序。方案节省了成本,提高了人机界面的反应速度,有一定实用价值。
17.8 cm模拟TFT型LCD 单显存 17.8 cm analog TFT LCD screen STM32 STM32 CPLD CPLD single video memory DMA DMA 
液晶与显示
2012, 27(5): 642
作者单位
摘要
上海大学 机电工程与自动化学院,上海 200444
为了适应工业化现场应用和仪器仪表测试系统的终端显示需要,提出运用DSPTMS320LF2407A控制液晶显示模块的接口设计方案,详细介绍了DSP和液晶屏控制器的硬件连接和软件设计,软件程序采用C语言编写,具有较强的可移植性。在系统中成功实现了坐标系、文本、图形和菜单的显示。
液晶显示 接口 TX18D11VM1CAA TX18D11VM1CAA TMS320LF2407A TMS320LF2407A TFT8048 TFT8048 LCD screen interface 
液晶与显示
2010, 25(1): 99

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