作者单位
摘要
重庆光电技术研究所,重庆400060
设计了大尺寸输出节点和大尺寸放大器栅电容的CCD特殊输出结构,使输出节点总电容约为4.5×10-13 F,对设计结构进行了工艺试验。对输出节点电容进行参数校准、结构优化、流片试验、测试验证。试验结果表明,优化设计后的CCD电压转换因子精确地达到了0.352 μV/e-,满足了航天系统紫外线阵CCD满阱容量需达到1.0×107 e-/pixel量级,饱和输出幅度在3.5~4 V范围,CCD的电压转换因子在0.35 μV/e-亚微伏水平(比传统CCD低1~2个数量级)的特殊输出结构要求。
电荷耦合器件 电荷转换因子 输出节点电容 亚微伏结构 charge-coupled device (CCD) Charge to Voltage Factor (CVF) output node capacitor sub-micron-volt structure 
光电子技术
2022, 42(1): 28
常振 1,2王煜 2,*林方 1赵欣 1[ ... ]司福祺 1
作者单位
摘要
1 中国科学院 合肥物质科学研究院 安徽光学精密机械研究所 环境光学与技术重点实验室,安徽合肥23003
2 安徽大学 物质科学与信息技术研究院 信息材料与智能感知安徽省实验室, 安徽合肥30039
在CCD成像电路的研发过程中,为了确保CCD达到最优的满阱性能,需要不断调整CCD驱动信号参数并进行满阱测试,该过程通常需要重复几十甚至上百次。通用的光子转移曲线法需要积分球等设备搭建平场光源,系统复杂,满阱测试效率较低。提出了一种满阱测试方法——LED点测试法,该方法通过光子转移曲线法获取系统增益后,仅通过搭建LED点光源配合普通民品镜头即可实现CCD满阱测试。基于载荷CCD成像电路,使用LED点测试法进行测试。结果表明,载荷CCD的满阱电子数可达817.013ke-,误差不大于0.643%。针对LED点测试的同组数据采用传统满阱测试方法进行测试,对比结果表明,LED点测试法和传统测试方法相对光子转移曲线法的误差分别为0.039 7%和1.9%。LED点测试法可用作简易条件下快速测量CCD满阱的通用方法,能够提升CCD成像电路的研发效率。
电荷耦合器件 满阱容量 光子转移曲线 LED点测试法 数据拟合 charge-coupled device(CCD) full well capacity photon transfer curve LED-point test method data fitting 
光学 精密工程
2022, 30(13): 1542
作者单位
摘要
Institute of Modern Optics, Nankai University, Tianjin 300350, China
charge-coupled device (CCD) scattering ghost reflection 
Frontiers of Optoelectronics
2019, 12(2): 174–179
作者单位
摘要
1 南华大学 环境与安全工程学院, 湖南 衡阳 421001
2 中国核动力研究设计院, 四川 成都 610213
为了研究CCD与CMOS像素传感器对γ射线电离辐射的响应差异, 对比研究了4类像素传感器的结构特点和辐射响应特性。通过辐射实验, 对各传感器在不同辐射水平条件下的光子响应事件分布、平均灰度值以及典型光子响应事件进行研究。研究结果表明: 光子响应程度均与辐射剂量率相关; CCD像素传感器的沟道传输方式使每列像元间的辐射响应更容易相互干扰; 平均灰度值随剂量率的增大存在明显的梯度, 各积分周期内输出信号灰度值围绕均值上下波动, CCD像素传感器输出信号灰度浮动范围较小; CMOS像素传感器各像元对光子的响应更加明显, CCD像素传感器各像元的响应信号易与相邻像元发生串扰; 各类像素传感器典型辐射响应事件区域中发生光子响应的像元数量随剂量率的增大而增多, 响应事件并非单个光子的行为, 而是反映了多个光子在区域内同时沉积能量的过程。本研究为开发像素传感器的γ射线辐射探测技术和应用提供了重要的理论分析和实验数据支撑。
互补金属氧化物半导体 电荷耦合元件 像素传感器 光子电离辐射 辐射响应特性 complementary metal oxide semiconductor(CMOS) charge coupled device(CCD) pixel image sensor photon ionizing radiation radiation response characteristics 
发光学报
2018, 39(6): 815
作者单位
摘要
中国科学院 高能物理研究所 粒子天体重点实验室,北京 100049
根据CCD的工作特点,采用曝光控制和多帧图像叠合技术,研制了基于CCD和CsI闪烁体的硬X射线成像探测器,以提高对硬X射线的探测效率。 搭建了实验平台,以微加工技术制作的镍准直器为成像目标进行了实验验证。实验中,利用55Fe放射源对CCD进行直接成像; 然后利用241Am放射源同时对CCD和硬X射线成像探测器分别进行直接成像和间接成像。最后,对图像中出现的拖影、清晰度渐变和区域亮度不同等现象进行分析。分析结果表明: 相比CCD本身,这种技术不仅拓展了探测器的可响应能区,而且提高了的量子效率,并且在241Am放射源照射下,实现了对硬X射线的高分辨成像,其空间分辨优于50 μm。该器件可作为位置灵敏探测器应用于未来空间天文观测。
X射线成像 电荷耦合器件(CCD) CsI闪烁体 空间分辨率 X-ray imaging Charge Coupled Device(CCD) CsI scintillator spatial resolution 
光学 精密工程
2017, 25(11): 2865
作者单位
摘要
国防科技大学 脉冲功率激光技术国家重点实验室, 合肥 230037
首先介绍了基于猫眼效应的激光主动探测方法的发展历程, 分析了离焦量、探测距离、大气湍流等因素对猫眼回波的影响; 然后介绍了激光损伤CCD的研究过程及研究现状, 分析了激光损伤CCD的机理及效果; 最后介绍了利用猫眼效应探测CCD被损伤程度的方法, 并指出了此方法的发展方向。
猫眼效应 激光损伤 cat eye effect laser damage CCD charge-coupled device (CCD) 
光电技术应用
2017, 32(6): 6
作者单位
摘要
1 长春理工大学 光电信息学院光电工程分院,长春 130012
2 中国电子科技集团公司光电研究院,天津 300308
对于物体位移的测试一直是工程领域中不可避免的问题。应用传统全息干涉术测试物体位移的方法处理过程复杂,测量结果精度低。数字全息是传统全息与现代电子技术相结合的一种数字化的光信息处理技术。文中将电荷耦合器件CCD与电寻址液晶EALCD相结合,实现数字全息的记录和再现过程。用数字的方式记录和处理全息图像,避免了传统全息照相的化学处理,利用数字图像处理技术来改善再现图像质量和提取有价值的信息。在数字全息实验理论分析的基础上,对反射式的被测物体进行了菲涅耳全息图的记录与再现,再现图像的清晰度和干涉条纹的对比度都得到了显著的改善。
数字全息 菲涅耳数字全息 位移测试 digital holography Fresnel digital holography CCD charge coupled device (CCD) EALCD electrically addressed liquid crystal display (EAL displacement measurement 
光电技术应用
2017, 32(5): 70
作者单位
摘要
光电信息控制和安全技术重点实验室, 天津 300308
激光测向技术是利用光电探测器接收激光信号, 根据探测器光敏面对目标像光斑中心位置的偏差, 解算出角度偏差量, 进而得到目标的方位信息。激光测向技术具有测向范围大、电路设计灵活、测向精度高等特点, 因而得到广泛的应用。光电探测器件是激光测向技术的核心器件, 介绍了三种主要的探测器件, 论述了它们的工作原理和特点, 通过比较得出QD具有更多优点, 是较为理想的精密测向器件, 更适合于高精度动态目标的跟踪测量。
激光测向技术 光电探测器件 laser direction finding technology photoelectric detection device CCD charge-coupled device (CCD) position sensitive device (PSD) PSD QD quadrant detector (QD) 
光电技术应用
2017, 32(4): 38
作者单位
摘要
光电信息控制和安全技术重点实验室, 天津 300308
采用重频1 kHz, 脉宽分别为30 ps、100 ns以及4 ns(皮秒脉冲串, 单脉宽30 ps)的532 nm激光辐照面阵CCD器件, 观察到了CCD从线性响应到像元饱和、饱和串扰直至损伤的全过程, 获得了激光辐照CCD的饱和阈值和破坏阈值。实验表明, 皮秒脉冲串激光干扰效果明显优于普通皮秒激光, 获得相同干扰效果时, 皮秒脉冲串激光所需的功率密度要低1~2数量级。
脉冲串 激光辐照 面阵CCD 阈值 pulse sequence laser irradiation charge-coupled device (CCD) threshold 
光电技术应用
2017, 32(4): 30
作者单位
摘要
光电信息控制和安全技术重点实验室, 天津 300308
开展了可见光CCD对脉宽为100 fs的808 nm高重频、低重频激光与808 nm连续激光的线性响应对比实验。实验结果表明, 当CCD处于线性响应范围时, CCD对脉宽为100 fs的激光与连续激光的能量响应率之比均接近1, 说明响应特性无差别。同时由CCD原理可知, 响应输出与积分时间内接收到的激光能量成正比, 说明CCD的能量响应率与脉冲宽度、激光重复频率无关。
飞秒激光 连续激光 响应特性 重复频率 femto-second laser continuous wave (CW) laser CCD charge-coupled device (CCD) responsivity repetition frequency 
光电技术应用
2017, 32(4): 26

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