针对窄带信号模型下的均匀线性阵列测向, 提出一种基于空间频率估计的高效快速测向方法, 介绍了该方法的测向原理, 研究了空间采样率与无模糊入射角估计范围之间的关系, 分析了影响测向误差的因素。基于该方法对一种阵列构型下的信号入射角进行了仿真估计。结果表明, 利用所提方法可以在采用均匀阵列模型的情况下达到较高的测向精度。

为分析天线组阵窄带信号合成性能受残留时延影响的程度,给出了残留时延对合成性能影响的理论分析方法。首先建立了残留时延分布特性的仿真模型,详细描述了模型的设计思路。然后通过公式推导,提出了残留时延对窄带信号合成损失影响的理论公式。最后仿真并对比分析了不同参数条件下残留时延对窄带信号合成性能的影响,给出了残留时延引起的相位差的标准差与合成损失的关系,验证了理论公式的正确性。结果表明,残留时延引起的相位差越大,对窄带信号合成损失的影响也越大,若要求合成损失小于0.1 dB,则相位差的标准差约小于8.7°(约0.15 rad)。该方法的提出和运用有助于确定残留时延对窄带信号合成损失影响的上下限。