上海大学精密机械工程系应用光学与检测实验室, 上海 200072
对基于两片柱透镜光栅正交叠放的集成成像方法进行了光学特性分析和实验研究。分析了不同正交叠放的柱透镜光栅单元之间的几何光学特性的差异。对柱透镜光栅凸面对凸面的叠合方式进行了几何光学模型解析。运用光学仿真软件对正交叠放柱透镜光栅和微透镜阵列的光学成像特性进行了光学成像的模拟分析。通过电荷耦合元件(CCD)相机获取三维物体经过正交柱透镜光栅后的基元图像阵列，并根据柱透镜光栅的栅距对基元图像的尺寸进行配准，再用高分辨率激光打印机将基元图像阵列记录在相片纸上，并将其与正交柱透镜光栅进行精确位置匹配后，获得了具有全视差的立体成像效果。
集成成像 正交柱透镜光栅 微透镜阵列 光学特性分析 光学学报
2013, 33(s2): s211005
