作者单位
摘要
上海理工大学, 上海 200093
选用Munsell新标数据集, 采用基于模式识别技术的圆度、色相角偏差、明度线性度与空间投影点聚集度四个指标来分别评价目前八个典型色貌模型在彩度均匀性、色相预测准确性、明度均匀性、颜色的空间再现的能力。结果表明, 不同的色貌模型在四个方面的颜色再现性上表现出不同的优势。八个色貌模型对彩度预测最好的是RLAB, 每个色貌模型对红色和绿色预测比较好, CAM02在色相预测整体上占优势;明度的均匀性预测都比较好, 尤其是CIELAB; LLAB的颜色的空间再现能力最好。
模式识别技术 色貌模型 孟塞尔新标数据集 圆度 色相角偏差 明度线性度 投影点聚集度 pattern recognition technology color appearance model Munsell new standard data set roundness the linearity deviation concentrated degree of projection points comprehensive ability of reproduction 
光学技术
2012, 38(5): 573
作者单位
摘要
1 华中科技大学 机械学院 仪器系,湖北 武汉 430074
2 华侨大学,福建 泉州 362021
3 哈德斯菲尔德大学 精密技术中心,英国
为了评价仪器的软件和整体性能,根据ISO软件测量标准(SoftGauge)5436-2,应用过程仿真、以及实测电加工表面和实测珩磨表面得到的标准数据,研究了采用不同方法获得的表面形貌即粗糙度轮廓的评定基准,分别为高斯滤波基准、最小二乘中线基准和最小二乘曲线基准。给出了不同基准下ISO 4287定义的表面粗糙度轮廓典型参数的评定结果,包括Ra、Rq、Rp、Rv、Rsk、Rku等,分析了几种基准下各参数相对于标准结果的计算偏差。计算结果表明:对于仿真数据,3种方法的计算精度都比较好,仅仅参数Rsk在两个最小二乘基准下偏差较大,达50%左右;对于电加工表面数据,高斯基准下的各个参数偏差最小,其它两种基准下偏差稍大,而相对偏差较大的是Rsk和Rp,其中Rsk分别为3.55%和-7.45%,Rp分别为-3.45%和3.95%;对于含有跳跃点的珩磨表面,3种基准下的评定结果都有较大偏差,其中求均值运算的Ra、Rq的偏差稍小,其它较大,经过剔除处理后,Ra、Rq偏差仍然相对稍小,Rsk和Rp由较大偏差明显减小为稍小偏差,而Rku、Rp偏差没有明显改进,仍约为40%。总之,3种方法对奇异点较敏感,对无奇异点的粗糙度轮廓的常用参数评定结果基本一致。在评定一般精度、表面无明显周期波纹度成分和较大奇异特征时,对于常用表面功能评定参数,如Ra、Rq,选用原理简单、实现方便的最小二乘拟合基准即可满足要求。
粗糙度评定 基准 标准数据 roughness evaluation mean line ISO5436-2 standard data ISO4287 ISO5436-2 ISO4287 
光学 精密工程
2009, 17(5): 1063

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