针对现有弹光调制器(photoelastic-modulator, PEM)的调制频率高(几十kHz以上)， 调制干涉信号频率更高， 普通阵列探测器无法有效采集， 提出了一种基于双弹光调制器拍频调制和傅里叶-贝塞尔(Fourier-Bessel)变换的光谱测量方法， 并结合CCD成像技术构成新型双弹光调制成像光谱技术(dual-photoelastic-modulator-based imaging spectrometer, Dual-PEM-IS)。 该方法将双弹光调制器分别工作在数值略有差异的频率上， 以对光进行拍频调制， 并产生载有被测光的低频调制分量(比驱动频率小2～3个数量级， 普通CCD可实现探测)， 通过对调制信号中的低频成分进行Fourier-Bessel变换可得到目标光谱， 使得弹光调制兼具了成像和光谱测量能力。 介绍了其原理并推导出光谱反演公式， 并通过仿真和实验验证其可行性， 分析了光程差的微小偏差对反演光谱造成的影响， 为进一步工程化实现提供了必要的理论基础。

提出了一种基于双光弹调制差频调制和傅里叶 -贝塞尔 (Fourier-Bessel)变换的光谱偏振测量方法, 该方法将双光弹调制器 (Dual-photoelastic-modulator, Dual-PEM)分别工作在数值略有差异的频率上, 以对光进行差频调制, 并产生载有被测偏振信息的低频 (几十~几千赫兹)调制分量, 普通阵列探测器就可以实现低频分量的探测。通过对调制信号中的低频成分进行傅里叶 -贝塞尔变换, 可得到被测光对应的 Stokes矢量中 Q(σ)和 U(σ)的光谱。该方法降低了偏振光谱测量系统的复杂度。本文介绍了其原理并推导出了偏振光谱反演公式, 并通过仿真和实验验证其可行性。