辐射研究与辐射工艺学报
2023, 41(6): 060703
1 河北冀雅电子有限公司, 河北 石家庄 050071
2 河北工业大学, 天津 300401
简要分析工业用液晶屏功耗电流大小的影响因素, 初步探讨功耗电流对显示的影响, 并提出控制功耗电流的途径。
液晶屏 功耗电流 控制 liquid crystal panel power current control
1 中国科学院 长春光学精密机械与物理研究所,吉林 长春 130033
2 中国科学院 研究生院,北京 100039
为了研究大规模集成电路存储器的总剂量辐射效应,分别对SRAM和ROM两种存储器进行了60Co γ总剂量辐射实验。结果表明,这两种器件是对总剂量辐射效应敏感的器件,失效阈值在10~15 krad(Si)之间。实验还表明,研究SRAM、ROM的总剂量辐射效应,只对数据存取功能进行测试是不完善的,器件的静态功耗电流与动态功耗电流也是总剂量辐射效应的敏感参数,应该作为总剂量辐射效应失效阈值的有效判据。根据器件结构与实验结果,分析了SRAM和ROM器件的损伤机理,认为CMOS SRAM的损伤主要源于辐射产生的界面效应;而浮栅结构ROM的损伤则源于辐射产生的氧化物陷阱电荷与界面陷阱电荷。
静态功耗电流 动态功耗电流 总剂量辐射效应 SRAM SRAM ROM ROM static consumption current dynamic consumption current total dose effect
