作者单位
摘要
北京交通大学 光波技术研究所,北京 100044
提出了一种可用于制作高反射率纯幅度取样光纤光栅的拼接技术方案,并对拼接误差和拼接次数对取样光栅光谱特性的影响进行了详细的理论分析和研究。理论分析结果表明,采用拼接技术可以获得良好的多波长取样光纤光栅反射谱,拼接误差对取样光栅反射谱的影响主要取决于拼接次数。在拼接三次时,可接受的拼接误差仅为±0.1μm;但在只拼接一次的情况下,拼接误差达±5μm时仍可获得良好的多波长反射谱。
取样光栅 高反射率 拼接 拼接误差 拼接次数 sampled gratings high reflectivity splicing splicing error splicing times 
半导体光电
2011, 32(1): 64

关于本站 Cookie 的使用提示

中国光学期刊网使用基于 cookie 的技术来更好地为您提供各项服务,点击此处了解我们的隐私策略。 如您需继续使用本网站,请您授权我们使用本地 cookie 来保存部分信息。
全站搜索
您最值得信赖的光电行业旗舰网络服务平台!