光学 精密工程, 2009, 17 (5): 1063, 网络出版: 2009-10-28
ISO5436-2的表面形貌评定基准
Assessment mean lines of surface texture based on ISO5436-2
基本信息
DOI: | -- |
中图分类号: | TH741.3 |
栏目: | 微纳技术与精密机械 |
项目基金: | 中国博士后科学基金资助项目(No.20060400247)、华中科技大学博士后科学基金资助项目。 |
收稿日期: | 2008-06-04 |
修改稿日期: | 2008-08-15 |
网络出版日期: | 2009-10-28 |
通讯作者: | 崔长彩 (cuichc@hotmail.com) |
备注: | -- |
崔长彩, 蒋向前, 李小改, 刘晓军. ISO5436-2的表面形貌评定基准[J]. 光学 精密工程, 2009, 17(5): 1063. CUI Chang-cai, JIANG Xiang-qian, LI Xiao-gai, LIU Xiao-jun. Assessment mean lines of surface texture based on ISO5436-2[J]. Optics and Precision Engineering, 2009, 17(5): 1063.