ISO5436-2的表面形貌评定基准

崔长彩; 蒋向前; 李小改; 刘晓军

光学精密工程, 2009, 17 (5): 1063, 网络出版: 2009-10-28

ISO5436-2的表面形貌评定基准

Assessment mean lines of surface texture based on ISO5436-2

崔长彩 ^1,2,*蒋向前 ^1,3李小改 ¹刘晓军 ¹

作者单位

¹ 华中科技大学机械学院仪器系,湖北武汉 430074

² 华侨大学,福建泉州 362021

³ 哈德斯菲尔德大学精密技术中心,英国

图 & 表

崔长彩, 蒋向前, 李小改, 刘晓军. ISO5436-2的表面形貌评定基准[J]. 光学精密工程, 2009, 17(5): 1063. CUI Chang-cai, JIANG Xiang-qian, LI Xiao-gai, LIU Xiao-jun. Assessment mean lines of surface texture based on ISO5436-2[J]. Optics and Precision Engineering, 2009, 17(5): 1063.