强激光与粒子束, 2011, 23 (3): 770, 网络出版: 2011-04-01
合肥光源托歇克效应损失电子的探测
Detection of electron loss due to Touschek effect in Hefei Light Source
基本信息
DOI: | -- |
中图分类号: | TL506TL812.1 |
栏目: | 加速器技术 |
项目基金: | 国家自然科学基金项目(10875118) |
收稿日期: | 2010-04-21 |
修改稿日期: | 2010-08-27 |
网络出版日期: | 2011-04-01 |
通讯作者: | 孙玉聪 (hlxu@ustc.edu.cn) |
备注: | -- |
孙玉聪, 蓝杰钦, 张剑锋, 徐宏亮, 孙葆根. 合肥光源托歇克效应损失电子的探测[J]. 强激光与粒子束, 2011, 23(3): 770. Sun Yucong, Lan Jieqin, Zhang Jianfeng, Xu Hongliang, Sun Baogen. Detection of electron loss due to Touschek effect in Hefei Light Source[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2011, 23(3): 770.