汤姆孙散射系统中发黑材料的表面散射特性测量

王鹏; 袁鹏; 谭伟强; 郑坚

doi:doi:10.3788/AOS202040.2129002

光学学报, 2020, 40 (21): 2129002, 网络出版: 2020-11-02

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Measurement of Surface Scattering Characteristics of Black Materials in Thomson Scattering System

王鹏 ¹袁鹏 ^1,*谭伟强 ¹郑坚 ^1,2

作者单位

¹ 中国科学技术大学工程与应用物理系近地空间重点实验室, 安徽合肥 230026

² 上海交通大学IFSA协同创新中心, 上海 200240

补充材料

王鹏, 袁鹏, 谭伟强, 郑坚. 汤姆孙散射系统中发黑材料的表面散射特性测量[J]. 光学学报, 2020, 40(21): 2129002. Peng Wang, Peng Yuan, Weiqiang Tan, Jian Zheng. Measurement of Surface Scattering Characteristics of Black Materials in Thomson Scattering System[J]. Acta Optica Sinica, 2020, 40(21): 2129002.