光学学报, 2005, 25 (4): 567, 网络出版: 2006-05-22   

射频磁控反应溅射氮氧化硅薄膜的研究

Study of Silicon Oxynitride Film Deposited by RF Magnetron Sputtering
作者单位
浙江大学现代光学仪器国家重点实验室, 杭州 310027
基本信息
DOI: --
中图分类号: O484.5; O484.4
栏目: 薄膜
项目基金: 国家自然科学基金(69976026)资助课题。
收稿日期: 2004-04-09
修改稿日期: 2004-04-09
网络出版日期: 2006-05-22
通讯作者: 朱勇 (yongzhu8@hotmail.com)
备注: --

朱勇, 顾培夫, 沈伟东, 邹桐. 射频磁控反应溅射氮氧化硅薄膜的研究[J]. 光学学报, 2005, 25(4): 567. 朱勇, 顾培夫, 沈伟东, 邹桐. Study of Silicon Oxynitride Film Deposited by RF Magnetron Sputtering[J]. Acta Optica Sinica, 2005, 25(4): 567.

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