强激光与粒子束, 2015, 27 (9): 094001, 网络出版: 2015-11-30
CMOS有源像素传感器的中子辐照位移损伤效应
Neutron irradiation induced displacement damage effects on CMOS active pixel image sensor
基本信息
DOI: | 10.11884/hplpb201527.094001 |
中图分类号: | TP212.14;TN386.5 |
栏目: | 粒子束技术 |
项目基金: | 国家自然科学基金项目(11005152) |
收稿日期: | 2015-05-01 |
修改稿日期: | 2015-07-09 |
网络出版日期: | 2015-11-30 |
通讯作者: | 汪波 (chenxing198889@163.com) |
备注: | -- |
汪波, 李豫东, 郭旗, 文林, 孙静, 王帆, 张兴尧, 玛丽娅. CMOS有源像素传感器的中子辐照位移损伤效应[J]. 强激光与粒子束, 2015, 27(9): 094001. Wang Bo, Li Yudong, Guo Qi, Wen Lin, Sun Jing, Wang Fan, ZhangXingyao, Ma Liya. Neutron irradiation induced displacement damage effects on CMOS active pixel image sensor[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2015, 27(9): 094001.