强激光与粒子束, 2015, 27 (9): 094001, 网络出版: 2015-11-30
CMOS有源像素传感器的中子辐照位移损伤效应
Neutron irradiation induced displacement damage effects on CMOS active pixel image sensor
CMOS有源像素传感器 中子辐照 像素单元 饱和输出电压 位移效应 CMOS active pixel sensor neutron irradiation pixel unit saturation output signal displacement damage effect
知识挖掘
相关论文
2023年
2022年
2022年
2022年
2018年
2017年
2016年
2015年
2015年
2011年
本文相似领域研究进展,
知识服务
本文主要研究领域论文发表情况:
10篇
6篇
3篇
2篇
本文研究领域论文发表情况(统计图):
汪波, 李豫东, 郭旗, 文林, 孙静, 王帆, 张兴尧, 玛丽娅. CMOS有源像素传感器的中子辐照位移损伤效应[J]. 强激光与粒子束, 2015, 27(9): 094001. Wang Bo, Li Yudong, Guo Qi, Wen Lin, Sun Jing, Wang Fan, ZhangXingyao, Ma Liya. Neutron irradiation induced displacement damage effects on CMOS active pixel image sensor[J]. High Power Laser and Particle Beams, 2015, 27(9): 094001.