发光学报, 2017, 38 (2): 165, 网络出版: 2017-02-09
大功率半导体激光器可靠性研究和失效分析
Reliability Test and Failure Analysis of High Power Semicounductor Laser
基本信息
DOI: | 10.3788/fgxb20173802.0165 |
中图分类号: | TN248.4;TN306 |
栏目: | 器件制备及器件物理 |
项目基金: | 国家自然科学基金(61306057)资助项目 |
收稿日期: | 2016-07-18 |
修改稿日期: | 2016-10-08 |
网络出版日期: | 2017-02-09 |
通讯作者: | 王文知 (wwzhi1991@163.com) |
备注: | -- |
王文知, 井红旗, 祁琼, 王翠鸾, 倪羽茜, 刘素平, 马骁宇. 大功率半导体激光器可靠性研究和失效分析[J]. 发光学报, 2017, 38(2): 165. WANG Wen-zhi, JING Hong-qi, QI Qiong, WANG Cui-luan, NI Yu-xi, LIU Su-ping, MA Xiao-yu. Reliability Test and Failure Analysis of High Power Semicounductor Laser[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2017, 38(2): 165.