大功率半导体激光器可靠性研究和失效分析

王文知; 井红旗; 祁琼; 王翠鸾; 倪羽茜; 刘素平; 马骁宇

doi:doi:10.3788/fgxb20173802.0165

发光学报, 2017, 38 (2): 165, 网络出版: 2017-02-09

大功率半导体激光器可靠性研究和失效分析

Reliability Test and Failure Analysis of High Power Semicounductor Laser

王文知 ^*井红旗祁琼王翠鸾倪羽茜刘素平马骁宇

作者单位

中国科学院半导体研究所光电子器件国家工程研究中心，北京 100083

补充材料

王文知, 井红旗, 祁琼, 王翠鸾, 倪羽茜, 刘素平, 马骁宇. 大功率半导体激光器可靠性研究和失效分析[J]. 发光学报, 2017, 38(2): 165. WANG Wen-zhi, JING Hong-qi, QI Qiong, WANG Cui-luan, NI Yu-xi, LIU Su-ping, MA Xiao-yu. Reliability Test and Failure Analysis of High Power Semicounductor Laser[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2017, 38(2): 165.