激光与光电子学进展, 2020, 57 (9): 091801, 网络出版: 2020-05-06
并行STED显微中光学系统对荧光擦除图案的影响 
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Effect of Optical System on the Fluorescence Depletion Pattern in the Parallelized STED Microscopy
显微 荧光显微镜 并行受激发射损耗 荧光擦除图案 光学系统参数 数值仿真 microscopy fluorescence microscopy parallelized stimulated emission depletion fluorescence depletion pattern optical system parameters numerical simulation
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