基片表面状态对Pb<sub>1-x</sub>Ge<sub>x</sub>Te薄膜红外光学性能的影响

谢平; 李斌; 张素英; 刘定权

红外, 2010, 31 (9): 14, 网络出版: 2011-02-22

基片表面状态对Pb_1-xGe_xTe薄膜红外光学性能的影响

Influence of Substrate Surface Status on Infrared Optical Characteristics of Pb1-xGexTe Films

谢平 ^*李斌张素英刘定权

作者单位

中国科学院上海技术物理研究所，上海 200083

图 & 表

谢平, 李斌, 张素英, 刘定权. 基片表面状态对Pb_1-xGe_xTe薄膜红外光学性能的影响[J]. 红外, 2010, 31(9): 14. XIE Ping, LI Bin, ZHANG Su-ying, LIU Ding-quan. Influence of Substrate Surface Status on Infrared Optical Characteristics of Pb1-xGexTe Films[J]. INFRARED, 2010, 31(9): 14.