光学学报, 2017, 37 (5): 0505001, 网络出版: 2017-05-05   

基于变量分离分解法的极紫外光刻三维掩模快速仿真方法

Fast Simulation Method of Extreme-Ultraviolet Lithography 3D Mask Based on Variable Separation Degration Method
张恒 1,2李思坤 1,2王向朝 1,2
作者单位
1 中国科学院上海光学精密机械研究所信息光学与光电技术实验室, 上海 201800
2 中国科学院大学, 北京 100049
基本信息
DOI: 10.3788/aos201737.0505001
中图分类号: O436
栏目: 衍射与光栅
项目基金: 国家自然科学基金(61474129)
收稿日期: 2016-11-30
修改稿日期: 2017-01-18
网络出版日期: 2017-05-05
通讯作者:
备注: --

张恒, 李思坤, 王向朝. 基于变量分离分解法的极紫外光刻三维掩模快速仿真方法[J]. 光学学报, 2017, 37(5): 0505001. Zhang Heng, Li Sikun, Wang Xiangzhao. Fast Simulation Method of Extreme-Ultraviolet Lithography 3D Mask Based on Variable Separation Degration Method[J]. Acta Optica Sinica, 2017, 37(5): 0505001.

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