光电子技术, 2017, 37 (1): 57, 网络出版: 2017-12-25  

PIN-FET探测器噪声特性分析与测试方法研究

Noise Characteristics Analysis and Noise Measurement Methods for PIN-FET Detector
作者单位
北京航空航天大学 仪器科学与光电工程学院, 北京 100191
基本信息
DOI: 10.19453/j.cnki.1005-488x.2017.01.012
中图分类号: TN256
栏目: 研究与试制
项目基金: 国家重大科学仪器设备开发专项(No.2016YFF0102400)
收稿日期: 2016-11-14
修改稿日期: --
网络出版日期: 2017-12-25
通讯作者: 刘优果 (liuyouguo@buaa.edu.cn)
备注: --

刘优果, 徐宏杰, 张玉慧, 郑月. PIN-FET探测器噪声特性分析与测试方法研究[J]. 光电子技术, 2017, 37(1): 57. LIU Youguo, XU Hongjie, ZHANG Yuhui, ZHENG Yue. Noise Characteristics Analysis and Noise Measurement Methods for PIN-FET Detector[J]. Optoelectronic Technology, 2017, 37(1): 57.

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