光电子技术, 2017, 37 (1): 57, 网络出版: 2017-12-25  

PIN-FET探测器噪声特性分析与测试方法研究

Noise Characteristics Analysis and Noise Measurement Methods for PIN-FET Detector
作者单位
北京航空航天大学 仪器科学与光电工程学院, 北京 100191
摘要
PIN-FET(光接收组件)探测器输出噪声是衡量其工作性能的重要指标。针对PIN-FET探测器不同的噪声来源, 对不同噪声进行了全面的理论分析, 并给出了不同噪声电流的理论计算关系。详细讨论分析了三种测量噪声大小的方法, 对比分析了它们之间的优劣。介绍了PIN-FET探测器噪声测试系统的原理, 着重分析了采用外差频谱仪测量噪声的原理, 并采用标准白噪声源替代探测器进行了测试实验。实验论证了测试方法的可行性, 为进一步研究光纤陀螺用探测器的噪声特性打下了一定的基础, 也对提高器件工作性能的研究具有指导意义。
Abstract
The output noise of PIN-FET detector is an important index of the performance.Noises of the different sources wereanalyzed and theoretical calculation of different noise current weregiven.Three methods of measuring noise werediscussed in detail,and their advantages and disadvantages were compared.Based on the introduction of noise measurement system, the principle of measuring noise by spectrum analyzer wasanalyzed, and the test experiment was carried out using the standard white noise source instead of the detector, which verified the feasibility of test method. The studylaysthefoundation for the further researchof PIN-FET detector noise characteristics, and is also meaningfulfor improving the device performance.
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