PIN-FET探测器噪声特性分析与测试方法研究

刘优果; 徐宏杰; 张玉慧; 郑月

doi:doi:10.19453/j.cnki.1005-488x.2017.01.012

光电子技术, 2017, 37 (1): 57, 网络出版: 2017-12-25

PIN-FET探测器噪声特性分析与测试方法研究

Noise Characteristics Analysis and Noise Measurement Methods for PIN-FET Detector

刘优果 ^*徐宏杰张玉慧郑月

作者单位

北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院, 北京 100191

补充材料

刘优果, 徐宏杰, 张玉慧, 郑月. PIN-FET探测器噪声特性分析与测试方法研究[J]. 光电子技术, 2017, 37(1): 57. LIU Youguo, XU Hongjie, ZHANG Yuhui, ZHENG Yue. Noise Characteristics Analysis and Noise Measurement Methods for PIN-FET Detector[J]. Optoelectronic Technology, 2017, 37(1): 57.