发光学报, 2012, 33 (10): 1089, 网络出版: 2012-10-12  

GaN缓冲层对直流反应磁控溅射AlN薄膜的影响

Effect of GaN Buffer Layers on Deposition of AlN Films by DC Reactive Magnetron Sputtering
作者单位
1 发光学及应用国家重点实验室 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所, 吉林 长春 130033
2 中国科学院大学, 北京 100039
基本信息
DOI: 10.3788/fgxb20123310.1089
中图分类号: O76
栏目: 器件制备及器件物理
项目基金: 国家自然科学基金(51072196, 51072195)资助项目
收稿日期: 2012-04-27
修改稿日期: 2012-05-25
网络出版日期: 2012-10-12
通讯作者: 王新建 (wangxinjian03@126.com)
备注: --

王新建, 宋航, 黎大兵, 蒋红, 李志明, 缪国庆, 陈一仁, 孙晓娟. GaN缓冲层对直流反应磁控溅射AlN薄膜的影响[J]. 发光学报, 2012, 33(10): 1089. WANG Xin-jian, SONG Hang, LI Da-bing, JIANG Hong, LI Zhi-ming, MIAO Guo-qing, CHEN Yi-ren, SUN Xiao-juan. Effect of GaN Buffer Layers on Deposition of AlN Films by DC Reactive Magnetron Sputtering[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2012, 33(10): 1089.

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