利用受激发射损耗(STED)显微术突破远场衍射极限

陈文霞; 肖繁荣; 刘力; 王桂英

激光与光电子学进展, 2005, 42 (10): 51, 网络出版: 2006-06-01

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Breaking Through the diffraction limit of far-field Optical microscopy by stimulated emission depletion (STED)

陈文霞 ^*肖繁荣刘力王桂英

作者单位

中国科学院上海光学精密机械研究所,上海 201800

补充材料

陈文霞, 肖繁荣, 刘力, 王桂英. 利用受激发射损耗(STED)显微术突破远场衍射极限[J]. 激光与光电子学进展, 2005, 42(10): 51. 陈文霞, 肖繁荣, 刘力, 王桂英. Breaking Through the diffraction limit of far-field Optical microscopy by stimulated emission depletion (STED)[J]. Laser & Optoelectronics Progress, 2005, 42(10): 51.