激光与光电子学进展, 2005, 42 (10): 51, 网络出版: 2006-06-01
利用受激发射损耗(STED)显微术突破远场衍射极限 下载: 641次
Breaking Through the diffraction limit of far-field Optical microscopy by stimulated emission depletion (STED)
分辨率 衍射极限 受激发射损耗 时间特性 空间特性 resolution diffraction limit stimulated emission depletion temporal characteristic spatial characteristic
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