光谱学与光谱分析, 2016, 36 (12): 4039, 网络出版: 2016-12-30
样品厚度对薄膜法X射线荧光光谱测量的影响研究
Study of the Impact of Sample Thickness on Thin Film Method X-Ray Fluorescence Spectrum Measurement
基本信息
| DOI: | 10.3964/j.issn.1000-0593(2016)12-4039-06 |
| 中图分类号: | O657.3 |
| 栏目: | |
| 项目基金: | 皖江新兴产业技术发展中心企业合作项目(ZNJX-15-10), 国家(863)计划项目（2013AA065502）, 国家自然科学基金项目（61405257）, 安徽省自然科学基金项目（1508085MF138）, 安徽省自主创新专项（12Z0104074）资助 |
| 收稿日期: | 2015-08-18 |
| 修改稿日期: | 2015-12-10 |
| 网络出版日期: | 2016-12-30 |
| 通讯作者: | 甘婷婷 (tingtinggan@163.com) |
| 备注: | -- |
甘婷婷, 张玉钧, 赵南京, 殷高方, 肖雪, 章炜, 刘建国, 刘文清. 样品厚度对薄膜法X射线荧光光谱测量的影响研究[J]. 光谱学与光谱分析, 2016, 36(12): 4039. GAN Ting-ting, ZHANG Yu-jun, ZHAO Nan-jing, YIN Gao-fang, XIAO Xue, ZHANG Wei, LIU Jian-guo, LIU Wen-qing. Study of the Impact of Sample Thickness on Thin Film Method X-Ray Fluorescence Spectrum Measurement[J]. Spectroscopy and Spectral Analysis, 2016, 36(12): 4039.
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