样品厚度对薄膜法X射线荧光光谱测量的影响研究 | 光谱学与光谱分析 -- 中国光学期刊网

光谱学与光谱分析, 2016, 36 (12): 4039, 网络出版: 2016-12-30

样品厚度对薄膜法X射线荧光光谱测量的影响研究

Study of the Impact of Sample Thickness on Thin Film Method X-Ray Fluorescence Spectrum Measurement

甘婷婷 ^1,2,*张玉钧 ¹赵南京 ¹殷高方 ¹肖雪 ¹章炜 ³刘建国 ¹刘文清 ¹

作者单位

¹ 中国科学院安徽光学精密机械研究所, 环境光学与技术重点实验室, 安徽省环境光学监测技术重点实验室, 安徽合肥 230031

² 皖江新兴产业技术发展中心, 安徽铜陵 244000

³ 中国人民解放军陆军军官学院, 安徽合肥 230031

光谱学 X射线荧光薄膜法重金属样品厚度 Spectroscopy XRF Thin film method Heavy metal Sample thickness

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