磁流变抛光是实现锥镜低表面损伤、面形误差高效抑制的重要工艺，然而锥面磁流变抛光去除函数畸变严重、畸变规律复杂，而现有方法难以直接有效建立其去除函数模型，导致面形收敛效率低下。本文分析了锥面曲率效应对磁流变抛光去除函数畸变的影响机制，研究去除函数的基准化特征参数关于平均曲率的解析规律，建立了由平面到锥面的磁流变抛光去除函数演绎方法。该方法将锥面去除函数的长宽、体去除率、峰去除率演变规律综合纳入到演绎之中，更全面地反映了锥面曲率效应下的磁流变抛光去除函数的畸变特性，同时避免了理化特性参数测量以及复杂方程和非线性问题的求解，为实际工况下锥面去除函数演绎提供一种有效、低成本方法。重复性采斑实验结果显示锥面去除函数特征参数的演绎误差为3.20%~12.02%，证明了该演绎方法具有较强的适用性。

基于布里渊光时域分析（Brillouin optical time-domain analysis, BOTDA）测量技术分别研究了单模光纤、光子晶体光纤和镀金光纤在1100 ℃、1200 ℃和1000 ℃的高温传感特性，通过对石英光纤的布里渊频移（Brillouin frequency shift, BFS）跳跃现象和涂覆层燃烧现象进行研究，指出石英光纤均需要退火才能够达到热稳定状态。退火后，三种光纤的布里渊频移随温度呈非线性变化。其中，单模光纤和光子晶体光纤高温状态下涂覆层气化，二氧化硅发生晶化导致其机械强度大幅下降，因此仅能作为一次性高温传感器；镀金光纤由于金涂层具有较高的熔点和良好的气密性，高温退火后仍然能够保持良好的机械强度，因此可以作为一种重复使用的高温传感器。该研究有望为高温传感应用（如涡轮发动机内部温度监测）提供一种技术参考。

根据液晶量的计算模型进行了理论模拟，基于模拟结果对各因子进行实验设计，并在实际生产中对提升盒厚均一性的方案进行了验证。实验结果表明，影响液晶盒厚均一性的关键因子是隔垫层、像素间段差和阵列基板侧段差，对盒厚工程能力指数的影响分别为0.9、0.8和0.6。在阵列基板侧使用有机膜可以将盒厚的工程能力指数提升0.6，采用交叉隔垫层可以将盒厚的工程能力指数提升0.9。降低彩膜侧段差最有效的方法是导入平坦层进行平坦化，高平坦性材料和普通材料的平坦层可分别将盒厚的工程能力指数提升0.5和0.2。

稀土锆酸盐(RE₂Zr₂O₇, RE为稀土元素)体系材料具有热导率低、 高温相结构稳定、 抗化学腐蚀和价格相对低廉等优势, 近年来在热障涂层、 环境障涂层和核防护涂层等领域得到广泛而深入的应用, 获得了广泛关注。 然而, 目前对该涂层材料的研究主要还是集中在热学、 力学及电学性能等, 对光学性能特别是反射光的偏振特性研究则鲜见报道。 以锆酸镧(La₂Zr₂O₇)为代表, 系统研究了稀土锆酸盐光学偏振特性, 特别分析了材料表面属性与光学偏振特性的对应关系。 实验中利用固相反应法分别合成制备了La₂Zr₂O₇粉体和致密块体材料, 并利用XRD(X-ray diffraction), Raman spectra和SEM (scanning electron microscope)等分析表征其微观结构, 结果显示制备的La₂Zr₂O₇材料为立方焦绿石相结构。 在光学性能分析中, 分别用自然光和线偏振光作为探测光源, 在不同探测角下研究其反射光偏振特性。 研究表明, 对于自然光入射, La₂Zr₂O₇块体和粉体材料的线偏振度(DOLP)与入射光波长呈现显著的依赖关系, 随着波长的增加, DOLP呈现出先增大后减小的趋势。 值得注意的是在红外波段, DOLP迅速降低并接近于0, 表明该材料在红外波段表现出良好的偏振隐身特性。 研究还发现, 在自然光入射时, 致密块体材料的DOLP分别在波长~720和~773 nm出现极大值, 且峰值波长对探测角度不敏感, 粉体材料在~714和~774 nm附近也出现两个峰。 在线偏振光入射, 块体材料在大角度探测角下, DOLP在~720和~763 nm出现两个峰, 与自然光入射光不同的是, 同一个探测角下两个峰的峰值大小基本相同, 粉体材料则在~720和~755 nm附近出现两个峰, 且峰值强度减弱, 说明涂层材料的粗糙度对反射光的偏振特性有一定影响, 研究进一步显示, 两个峰值对应的波长与探测角无显著依赖关系。 本研究结果为稀土锆酸盐涂层材料的偏振光谱学的开发、 应用和设计提供理论和实验支撑。