摩擦工艺ESD(Electrostatic Discharge)是TFT-LCD制程中较为常见的一种不良, 以317.5 mm(12.5 in)产品为例,摩擦工艺过程中ESD发生率20%, 对产品良率影响较大。文章结合实际生产对摩擦工艺ESD的原因进行理论分析与实验验证, 得出摩擦工艺发生ESD的原因为TFT基板上面有悬空的大块金属, 在摩擦过程中电荷积累过多容易发生ESD,ESD进一步烧毁旁边金属电路导致面板点亮时画面异常。生产过程中通过工艺管控和产品设计两方面优化改善, 工艺方面通过增加湿度, 涂布防静电液以及管控摩擦布寿命进行改善, 设计方面通过变更悬空的大块金属为小块金属, 通过工艺设计优化最终生产过程中摩擦工艺ESD发生率由20%下降到0%, 大大提高了产品品质, 降低了生产成本。

Zara Domain是TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)行业TN型产品中常见的不良, 严重影响着产品的良率。本文通过对101.3 mm(3.97 in) TN 产品的大量实验, 系统分析和研究了Zara Domain问题。研究结果表明: 优化产品设计、工艺参数、工艺管控都可有效地管控Zara Domain的发生率。首先通过调控矩阵工厂刻蚀工艺, 确保Shield Bar坡度角保持在45°左右时, Zara Domain发生率为0%。其次在盒工厂摩擦工艺段, 也可通过调控摩擦滚轮的摩擦强度值来提高摩擦后配向能力的均一性来降低Zara Domain的发生率。实验发现当摩擦强度值保持在2.3 N·m时, Zara Domain的发生率＜1%。另外通过改善对盒过程中高温固化的冷却工艺, 在设备上方增加空调扇, 加速冷却, 也可使Zara Domain的发生率<1%。本文通过对101.3 mm(3.97 in) TN产品系统的研究, 有望为解决Zara Domain不良提供一定的技术支持。

通过同步仿真技术建立同步设备和时钟链路的数据模型,模拟同步网的定时链路传送情况,可为现有同步网的优化和扩容提供定量分析数据.文章采用中国电力科学研究院研发的电力通信规划软件,分析了国家电网公司一级骨干网络结构对时钟同步的适应性,以及时钟优化调整后的网络节点和链路的时钟状态,计算出极长链路相位误差的统计结果,检测了错误时钟设置情况,可为同步网络规划建设提供有力的数据支撑.

随着电力系统信息通信灾备中心的建立, 电力业务对时钟同步提出了更高的要求,时钟同步网对于电力通信网络起着至关重要的支撑作用。文章说明了未来OTN(光传送网)设备在电力通信网中大规模部署逐步替代SDH(同步数字体系)网络之后, OTN支持时钟同步传递的必要性。在进行同步技术分析的基础上, 提出了基于OTN+PTN(分组传送网)的统一同步网络组网模型, 并进行了相应的系统测试, 测试结果表明, OTN+PTN组网模型能够满足电力业务的同步需求。

为解决光缆机械特性监测盲区，防止因机械性能劣化而产生的故障隐患，对光缆中光纤余长理论和BOTDA（布里渊光时域分析仪）、OTDR（光时域反射仪）监测原理进行研究。采用BOTDA监测技术，对光缆中光纤的应变进行了监测实验。结合理论分析，得出光纤应变随光缆的应力应变及机械特性变化的关系，能够对光缆机械性能劣化起到预警作用，防患于未然。