线宽压窄和频率锁定是提高激光器(特别是半导体激光器)性能的重要手段。在理论分析光反馈时的半导体激光器线宽压窄和频率锁定机理的基础上,建立了一套基于高品质V型光学谐振腔的半导体激光器线宽压窄实验系统,并利用该系统开展了初步实验研究。通过对比无有光反馈情况下的V型腔的透射光扫描线形,初步验证了V型腔用于半导体激光器线宽压窄和频率锁定的可行性,为后续研究奠定了基础。

在激光陀螺测角仪的测量过程中，为了建立一个可靠精确的零点，提出一种特殊的瞄准指示装置——指零仪光路部分的设计方案。介绍了自准直指零仪和干涉指零仪的光路结构及工作原理，针对2种指零仪输出脉冲特性，利用电波探测系统相关理论建立了误差方程，并通过脉宽的计算及之前建立的误差方程得出两者典型的误差值。结果表明干涉指零仪的精度达到了0.05″，自准直指零仪达到了0.23″，干涉指零仪基本可以满足测角仪的精度要求。

在对椭圆偏振测量的基本原理进行了简单介绍和推导后，讨论了椭圆偏振测量中椭偏参数关于薄膜参数的灵敏度以及入射角对椭偏参数的影响，并进行了具体的仿真分析,得到如下结论：椭偏参数Delta对薄膜光学常数和薄膜厚度变化的灵敏度明显高于椭偏参数Psi。在椭偏数据处理中，椭偏参数Delta的测量精度直接影响薄膜光学常数和薄膜厚度的拟合精度。为了提高椭偏参数Delta的测量精度，可以选择入射角在膺布儒斯特角附近。所得结论对高精度椭偏测量具有指导意义。

运用“热-结构-光”耦合分析方法,计算典型星敏感器光学系统（6透镜光具组,f=56 mm,相对孔径1/1.3）恒星像斑理想质心位移和亚像元内插质心偏移量,研究温度分布对星敏感器测量准确度的影响.以20℃为光学系统标定温度,计算光学系统均匀温度分布、轴向温差分布和上下侧温差分布三种条件下,星敏感器测量误差.均匀分布温度变化20℃时,星敏感器测量误差约0.07″；轴向温差10℃和20℃时,测量误差分别约为0.17″和0.31″；上下侧温差仅2℃时,测量误差就高达1.46″.计算结果表明,上下侧温差分布对星敏感器准确度影响最大,均匀温度分布影响最小.

介绍了透反射率自动化测量系统的测量原理及测量过程，分析了测量过程中的入射角定位误差、同轴误差、硅光电池光敏面的非均匀误差、硅光电池的非线性误差、前置放大器转换误差、数据采集卡的采集误差等系统误差以及各种随机误差，并提出了相应的解决方案，为高精度透反射率自动化测量系统的研制提供了理论基础。

：探讨实现空间滤波的新方法，分析体布拉格光栅作为空间滤波器的可行性，基于Kogelnik 一维耦合波理论，讨论影响体布拉格光栅衍射效率和角度选择性的主要因素。用全息法在光致聚合物中记录了体布拉格光栅，完成了激光光束二维空间低通滤波的实验。实验结果表明：在记录材料达到饱和状态之前延长曝光时间能提高衍射效率；增大入射角度能使角度选择性提高，但由于吸收加大，衍射效率反而会有所下降。因此，体布拉格光栅用作空间滤波器时要对衍射效率和角度选择性作综合考虑。

利用Kogelnik一维耦合波理论, 以及离散傅里叶变换, 分析光栅矢量相互正交, 且串联级联放置的两透射型体相位光栅对空域任意分布的连续激光光束的衍射特性; 讨论其对入射光束的空间低通滤波性能, 并具体模拟其对畸变高斯光束空间低通滤波的效果。结果表明, 利用体光栅优良的角度选择特性, 无须对畸变光束进行聚焦, 即可实现入射光束角谱域中的高频成分与低频成分的空间分离, 滤除畸变高斯光束中高频角谱成分, 使得衍射光束与未畸变光束在空域中的光强分布非常接近, 达到滤除畸变光束中杂散成分且保留有用成分的主要目的。这种方法有效地避免了聚焦型空间低通滤波, 如针孔滤波在针孔附近光强过高, 易致针孔周边材料损坏等不利因素, 有助于应用至高功率激光光束质量的优化。

为借助激光全息进行无损检测，获得位相物体的信息，对位相物体激光全息二次曝光法无损检测进行了研究，指出一般的二次曝光法测位相物体典型光路的缺点，提出了物光波2次通过样品的改进方案。利用此方案对一些位相物体(如普通玻璃和有机玻璃)作了无损检测实验，得到了较满意的实验结果。与普通检测方法相比，该方法具有精度高、结果直接可靠、不损伤物体等诸多优点。对改进方案稍作改动，即可用于塑料制品和玻璃制品生产线对加工产品进行在线产品质量监控。

采用真空沉积的方法在SiO₂基片上制备出了纳米InSb颗粒薄膜.利用原子力显微镜对4片样品表面进行分析,从其表面形貌图和三维图中可以观察到有粒径均匀的纳米InSb颗粒形成并且均匀地分布在SiO₂基片表面.实验表明,通过改变镀膜时间可以得到具有不同颗粒尺寸的InSb纳米颗粒,并且颗粒直径与沉积时间和厚度成正比.