作物优良品种选育是实现作物优质高产的关键。 现代育种方法需要获取植株的大量表型信息, 最终选育出性状稳定的优良品种。 近年来, 高通量植物表型分析技术因其快速、 无损、 高效等优势, 为筛选优良作物品种提供了技术保障, 已成为农学、 工程、 计算机科学等多学科交叉研究的热点。 其中, 叶绿素荧光技术作为植物光合作用的探针, 是研究植物逆境胁迫表型的有力工具之一, 能够实现植物生物与非生物胁迫的高效分析, 加快作物优良性状的筛选。 该文旨在阐述叶绿素荧光技术的研究进展和发展趋势, 主要介绍了叶绿素荧光技术的基本原理和成像系统、 叶绿素荧光参数的分析和处理方法, 总结了在植物表型分析研究中的应用情况, 探讨了该技术目前存在的问题和改进的方法, 进一步展望了叶绿素荧光技术在植物表型分析中的应用前景。