作者单位
摘要
浙江工业大学光电子智能化技术研究所, 浙江 杭州 310023
当量子点粒度分布为高斯分布时,应用有效质量近似,在低浓度掺杂范围内,得到了量子点荧光辐射谱线形函数与量子点尺寸之间的一般关系,解释了尺寸涨落对线形展宽的影响。对II-VI族的CdSe 量子点和IV-VI族的PbSe量子点的数值计算表明:量子点荧光谱线的半峰全宽、荧光辐射强度、峰值波长等与实验结果基本一致。量子点尺寸的粒度分布对荧光辐射谱线展宽有较大的影响。荧光辐射谱展宽是一种非均匀展宽。
材料 量子点 荧光谱线线形 粒度分布 均匀展宽 有效质量模型 
光学学报
2016, 36(2): 0216001
作者单位
摘要
北京理工大学光电学院, 光电成像技术与系统教育部重点实验室, 北京100081
全反射傅里叶变换成像光谱仪ARFTIS (all-reflection Fourier transform imaging spectrometer) 是基于FT成像光谱理论的一种新型仪器, 它不但具有高光谱分辨率特点, 而且还具有宽波段、 无色差的特点, 特别适合应用在宽波段成像的遥感领域。 目前常用的光谱定标方法有单色法、 平均法和加权平均法, 但是它们各存在一定局限性, 不能同时满足简便和高精度的要求。 文章研究了全反射型FTIS的光谱定标理论和三种定标方法的局限性, 提出了一种新的光谱定标处理实用模型。 其特点是需要定标特征波长数量少、 单次定标精度高、 多波段平均误差小于5%、 稳定性较高, 可以在保证较高精度的前提下, 简化定标工作, 特别适用于缺少大量定标设备, 或不便进行多光源定标的外场环境仪器标定工作。
波数均匀展宽 全反射 傅里叶变换成像光谱仪 光谱定标 高光谱 Homogeneous broadening of the wave number All-reflection Fourier transform imaging spectrometer Spectrum calibration Hyperspectral 
光谱学与光谱分析
2011, 31(7): 1762
作者单位
摘要
中山大学 光电材料与技术国家重点实验室,广州 510275
用建立的“预报校正-四阶龙格库塔” 数值算法研究了非均匀展宽二能级体系中超短激光脉冲的传播特性.计算结果表明,非均匀展宽线型的线宽对光脉冲传播会产生调制作用.当线宽大于脉冲的频谱宽度时,脉冲面积演化与面积定理相符且脉冲传播平稳;但随着线宽的减小,脉冲面积演化会越来越偏离面积定理,脉冲传播不再平稳并出现“拖尾”振荡.脉冲主峰的峰值和脉冲的传播速度也受到线宽的影响.
量子光学 Maxwell-Bloch方程 均匀展宽二能级体系 面积定理 超短激光脉冲的传播 Quantum optics Maxwell-Bloch equations Inhomogeneous broadening two-level system Area theorem Propagation of ultra-short pulse 
光子学报
2010, 39(1): 6
作者单位
摘要
中山大学 光电材料与技术国家重点实验室,广州 510275
用数值计算方法研究了均匀展宽二能级体系在激光超短脉冲作用下介质参量、入射脉冲面积、弛豫时间和频率失谐量对光脉冲面积演化的影响.计算结果表明,脉冲面积会在最接近输入脉冲面积2π偶数倍的值上振荡,并经过一定的传播距离后,台阶式跳跃到下一个偶数倍2π的值上振荡.
量子光学 光与物质相互作用 Maxwell-Bloch方程 均匀展宽介质 面积定理 Quantum optical Light-matter interaction Maxwell-Bloch equations Homogeneously broadened medium Area theorem 
光子学报
2009, 38(7): 1608
作者单位
摘要
1 北京工业大学应用数理学院,北京 100022
2 南开大学现代光学研究所,天津 300071
掺铒光纤激光器(EDFL)是光通信与光传感领域中最有发展前途的光源之一,目前已有多种方法实现了掺铒光纤激光器多个波长的稳定输出。本文分析了各种在EDFL中产生多波长振荡的机理,并讨论了未来的发展趋势。
掺铒光纤激光器(EDFL) 模式竞争 均匀展宽 均匀展宽 
激光与光电子学进展
2005, 42(9): 6
作者单位
摘要
1 福建师范大学激光研究所, 福州 350007
2 清华大学现代应用物理系, 北京 100084
我们从标准Voigt线型曲线族看出η≤1.2的曲线十分接近于η=0即均匀展宽的曲线。结合实验事实,澄清了关于使增益介质均匀展宽占优势的概念,并且详细推导了均匀展宽激光器自发产生单纵模运转的条件。
Voigt线型 均匀展宽 单纵模运转 
中国激光
1993, 20(11): 818

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