偏振片是一重要的光学器件，通常实验室所用偏振片的偏振化方向未知。为了得到精确的偏振片的偏振化方向，提出了一种基于布儒斯特定律测定偏振片偏振化方向的方法，并将已测定偏振化方向的偏振片置于液晶光电测试系统的光路中，测得透光量随偏振片偏振化方向与液晶盒前摩擦取向方向夹角的变化关系。实验结果表明：偏振片偏振化方向和液晶盒前摩擦取向方向夹角为45°时，透光量达到最大，并以此角测试了透光量随施加电压、时间的变化且给予了理论分析，验证了基于布儒斯特定律可以精确测定偏振片的偏振化方向，从而依据此研究，搭建了一个物理实验光路来测定未知偏振片的偏振化方向，并通过已知的光电测试系统给予验证，便于偏振片在需要精确测定其偏振化方向的领域得到更好的应用。