随着GOA(Gate On Array)技术的不断发展, 在小尺寸TFT-LCD窄边框显示屏上的应用也越来越频繁, 但是由于GOA电路的复杂性和TFT器件自身的稳定性, 以及外界温度、湿度的影响, 显示屏还存在显示不稳定的问题。本文针对小尺寸TFT-LCD GOA显示屏在高温高湿环境下产生的异常显示横纹, 进行了深入分析与改善研究。通过对GOA区域ITO过孔电阻测试、显微镜检查以及修复实验验证, 找出了不良产生的直接原因为ITO发生腐蚀, 过孔电阻增大, 导致GOA驱动信号无法上下导通。接着进一步研究ITO腐蚀发生的条件、ITO腐蚀情况、驱动信号对应关系以及腐蚀成分, 证明了ITO发生腐蚀原因为产品长期工作(200 h左右)在高温高湿环境下, 由于水汽的不断渗入, 使GOA区域ITO发生了电化学腐蚀效应。最后根据电化学腐蚀原理, 通过采用隔水性强的封框胶、增加ITO膜厚以及降低ITO电位差等措施对工艺进行了改善, 结果表明改善后的显示屏超过1 000 h, 未发生ITO腐蚀。

本文研究了一款TFT-LCD HADS产品出现的21.4%横纹不良。通过分析和改善研究表明, 产生横纹的根本原因是Vcom 反馈信号与CLK1、CLK2、CLK3信号产生耦合效应及Vcom补偿电路共同作用下, 导致Vcom在栅压关闭前存在三上三下的周期性波动, 形成三行暗三行亮水平粗纹; 根据原理分析进行不良改善实验验证, 最终通过调整降低Vcom补偿电路倍数, 将该不良降低至0%。

研究了TFT-LCD中像素电极与数据线之间的耦合电容(Cpd)对显示画质的影响, 分析了像素电极发生偏移后显示面板产生横纹不良的机理。研究结果表明, 像素电极发生偏移后, 数据线与左右两侧像素电极之间的Cpd耦合电容大小产生差异, 造成相邻行间的像素发生不同方向的电压跳变。实际观察结果显示, 当两行像素的亮度差异大于8个灰阶时, 即会出现明显可见的横纹不良。提出了一种横纹不良改善方案, 通过增加像素电极跨越数据线的条状设计结构, 利用二者之间的交叠电容变化来补偿耦合电容的变化。模拟结果显示, 当像素电极偏移1.2 μm时, 相邻行像素的亮度差异为6个灰阶, 无水平横纹不良的产生。新型像素结构的开口率无损失, 充电率满足产品设计要求, 表明此方案可应用于产品设计中。