作者单位
摘要
昆明物理研究所,云南昆明650223
辉光放电质谱法(GDMS)作为一种固体直接分析技术,已广泛应用于各种金属、半导体材料的痕量和超痕量杂质分析。充分挖掘仪器的应用潜力,利用固体样品分析表征时所获得的诸多干扰峰信息,结合GDMS仪器的工作机理和特点,分析和甄别样品中的未知常量元素,以获得更全面的样品信息和更可靠的分析结果
辉光放电质谱法 干扰峰 未知元素分析 glow discharge mass spectrometry interference peaks unknown elements analysis 
红外技术
2010, 32(3): 169

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