红外与激光工程, 2005, 34 (5): 544, 网络出版: 2006-05-25
GaN外延膜的红外椭偏光谱研究
GaN epilayer by infrared spectroscopic ellipsometry
氮化镓 红外椭偏光谱 折射率 载流子浓度 迁移率 GaN Infrared spectroscopic ellipsometry(IRSE) Refractive index Cartier concentration Electron mobility
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