红外与激光工程, 2005, 34 (5): 544, 网络出版: 2006-05-25
GaN外延膜的红外椭偏光谱研究
GaN epilayer by infrared spectroscopic ellipsometry
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王静, 李向阳, 刘骥, 黄志明. GaN外延膜的红外椭偏光谱研究[J]. 红外与激光工程, 2005, 34(5): 544. 王静, 李向阳, 刘骥, 黄志明. GaN epilayer by infrared spectroscopic ellipsometry[J]. Infrared and Laser Engineering, 2005, 34(5): 544.