中国激光, 2019, 46 (9): 0911001, 网络出版: 2019-09-10
基于激光诱导击穿光谱技术的铜铟镓硒薄膜中元素含量比的快速定量分析方法 下载: 849次
Rapid Quantitative Analysis of Element Content Ratios in Cu(In,Ga)Se2 Thin Films Using Laser-Induced Breakdown Spectroscopy
引用该论文
刘世明, 修俊山, 刘云燕. 基于激光诱导击穿光谱技术的铜铟镓硒薄膜中元素含量比的快速定量分析方法[J]. 中国激光, 2019, 46(9): 0911001.
Liu Shiming, Xiu Junshan, Liu Yunyan. Rapid Quantitative Analysis of Element Content Ratios in Cu(In,Ga)Se2 Thin Films Using Laser-Induced Breakdown Spectroscopy[J]. Chinese Journal of Lasers, 2019, 46(9): 0911001.
刘世明, 修俊山, 刘云燕. 基于激光诱导击穿光谱技术的铜铟镓硒薄膜中元素含量比的快速定量分析方法[J]. 中国激光, 2019, 46(9): 0911001. Liu Shiming, Xiu Junshan, Liu Yunyan. Rapid Quantitative Analysis of Element Content Ratios in Cu(In,Ga)Se2 Thin Films Using Laser-Induced Breakdown Spectroscopy[J]. Chinese Journal of Lasers, 2019, 46(9): 0911001.