中国激光, 2019, 46 (9): 0911001, 网络出版: 2019-09-10
基于激光诱导击穿光谱技术的铜铟镓硒薄膜中元素含量比的快速定量分析方法 下载: 849次
Rapid Quantitative Analysis of Element Content Ratios in Cu(In,Ga)Se2 Thin Films Using Laser-Induced Breakdown Spectroscopy
基本信息
DOI: | 10.3788/CJL201946.0911001 |
中图分类号: | O657.3 |
栏目: | 光谱学 |
项目基金: | 国家自然科学基金、山东省自然科学基金、 |
收稿日期: | 2019-03-05 |
修改稿日期: | 2019-05-06 |
网络出版日期: | 2019-09-10 |
通讯作者: | 修俊山 (xiujunshan@126.com) |
备注: | -- |
刘世明, 修俊山, 刘云燕. 基于激光诱导击穿光谱技术的铜铟镓硒薄膜中元素含量比的快速定量分析方法[J]. 中国激光, 2019, 46(9): 0911001. Liu Shiming, Xiu Junshan, Liu Yunyan. Rapid Quantitative Analysis of Element Content Ratios in Cu(In,Ga)Se2 Thin Films Using Laser-Induced Breakdown Spectroscopy[J]. Chinese Journal of Lasers, 2019, 46(9): 0911001.