光学学报, 2018, 38 (3): 0330001, 网络出版: 2018-03-20
基于M壳层辐射的Si K边X射线吸收近边结构谱实验研究
Experimental Study on Si K-Edge X-Ray Absorption Near-Edge Structure with M-Shell Radiation
基本信息
DOI: | 10.3788/aos201838.0330001 |
中图分类号: | O436 |
栏目: | 光谱学 |
项目基金: | 中国工程物理研究院科学技术发展基金(2014A0101001)、科学挑战专题项目(TZ2016001)、中国工程物理研究院规划发展项目(TCGH012404) |
收稿日期: | 2017-09-21 |
修改稿日期: | 2017-10-25 |
网络出版日期: | 2018-03-20 |
通讯作者: | 阳庆国 (yungore@163.com) |
备注: | -- |
谭伯仲, 阳庆国, 刘冬兵, 母健, 胡厚胜, 李牧, 李俊. 基于M壳层辐射的Si K边X射线吸收近边结构谱实验研究[J]. 光学学报, 2018, 38(3): 0330001. Tan Bozhong, Yang Qingguo, Liu Dongbing, Mu Jian, Hu Housheng, Li Mu, Li Jun. Experimental Study on Si K-Edge X-Ray Absorption Near-Edge Structure with M-Shell Radiation[J]. Acta Optica Sinica, 2018, 38(3): 0330001.