基于M壳层辐射的Si K边X射线吸收近边结构谱实验研究

谭伯仲; 阳庆国; 刘冬兵; 母健; 胡厚胜; 李牧; 李俊

doi:doi:10.3788/aos201838.0330001

光学学报, 2018, 38 (3): 0330001, 网络出版: 2018-03-20

基于M壳层辐射的Si K边X射线吸收近边结构谱实验研究

Experimental Study on Si K-Edge X-Ray Absorption Near-Edge Structure with M-Shell Radiation

谭伯仲阳庆国 ^*刘冬兵母健胡厚胜李牧李俊

作者单位

中国工程物理研究院流体物理研究所, 四川绵阳 621900

补充材料

谭伯仲, 阳庆国, 刘冬兵, 母健, 胡厚胜, 李牧, 李俊. 基于M壳层辐射的Si K边X射线吸收近边结构谱实验研究[J]. 光学学报, 2018, 38(3): 0330001. Tan Bozhong, Yang Qingguo, Liu Dongbing, Mu Jian, Hu Housheng, Li Mu, Li Jun. Experimental Study on Si K-Edge X-Ray Absorption Near-Edge Structure with M-Shell Radiation[J]. Acta Optica Sinica, 2018, 38(3): 0330001.